Vanatoarea cartilor in luna Noiembrie
Contact: 0724.900.100 / 0736.361.210

Structural and Chemical Characterization of Metals, Alloys and Compounds–2012: Volume 1481 - Ramiro Perez Campos, Antonio Contreras Cuevas, Rodrigo A. Esparza Munoz

Preț: 328,27 lei
Disponibilitate: în stoc
Livrare estimată: Joi, 12 Dec. 2024
ISBN: 9781605114583
Anul publicării: 2013
Pagini: 148
Categoria: Carte straina

DESCRIERE

The XXI International Materials Research Congress was held in Cancun, Mexico in August 2012. This Materials Research Society Proceedings contains papers presented at Symposium 2D "Structural and Chemical Characterization of Metals, Alloys and Compounds." This special issue covers several aspects of the structural and chemical characterization of the materials in the following areas: metals, alloys, steels, composites, polymeric compounds, welding, nanomaterials, and surface coatings, among others. They are amorphous, crystalline, powders, coatings, fibers, thin films, etc., which were prepared with different techniques. The structural characterization techniques included: scanning electron microscopy (SEM), X-ray diffraction (XRD), transmission electron microscopy (TEM), RAMAN spectroscopy, optical microscopy (OM), Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR), differential thermal analysis (DTA), differential scanning calorimetry (DSC), thermogravimetry analysis (TGA), thermo luminescence (TL), laser emission, etc. Theoretical models from these properties are included too.

RECENZII

Spune-ne opinia ta despre acest produs! scrie o recenzie
Created in 0.2872 sec
Acest site folosește cookie-uri pentru a permite plasarea de comenzi online, precum și pentru analiza traficului și a preferințelor vizitatorilor. Vă rugăm să alocați timpul necesar pentru a citi și a înțelege Politica de Cookie, Politica de Confidențialitate și Clauze și Condiții. Utilizarea în continuare a site-ului implică acceptarea acestor politici, clauze și condiții.
Viziteaza site-ul LibrariaDelfin.ro pe ShopMania Ghidul tau autentic de shopping.